掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscopes）
|
設(shè)備資源
|
 掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscopes）
|
|
|
參數(shù):
|
|
技術(shù)指標(biāo)
|
PHILIPS XL30掃描電子顯微鏡及EDAX DX－4能量色散譜儀（Specification）可同于固體物質(zhì)的表面形貌觀察和微區(qū)（～1μn）元素（B5～U92）定性、定量分析的一體化儀器
儀器基本參數(shù)：
1.二次電子分辨率：3.5nm
2.放大倍數(shù)：×10～×100000
3.能譜分辨率：138Kev
4.加速電壓：1～35kv
|
|
應(yīng)用范圍
|
斷口二次電子圖像立體感強(qiáng)，放大倍數(shù)連續(xù)可調(diào)，分辨率高可直接進(jìn)行斷口分析其斷裂性質(zhì)及研究。
在冶金及材料科學(xué)領(lǐng)域可進(jìn)行夾雜物，相分析，第二相組成及分析。 微小固體物質(zhì)分析。刑偵殘片分析μm及尺寸測(cè)量，（如：涂層、滲層微小顆粒等） 本儀器配備有經(jīng)驗(yàn)豐富的資深研究人員。在金屬材料，非金屬、陶瓷材料，復(fù)合材料等領(lǐng)域進(jìn)行失效分析，組織鑒別，表面形貌，腐蝕研究磨損研究中頗有建樹。
|
|
